Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren: I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis Book |
| Language: | German |
| Published: |
1972
|
| Subjects: | |
| Item Description: | Basel, Diss.. - Aus HPA.44.1971 Aus: HPA ; Vol. 44 |
| Physical Description: | S.387-886 |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV007314654 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 930421s1972 m2|| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)633696895 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV007314654 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-355 |a DE-29T |a DE-19 |a DE-83 |a DE-188 | ||
| 100 | 1 | |a Golder, Johannes |d 1942- |e Verfasser |0 (DE-588)125618433 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren |b I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| 264 | 1 | |c 1972 | |
| 300 | |a S.387-886 | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Basel, Diss.. - Aus HPA.44.1971 | ||
| 500 | |a Aus: HPA ; Vol. 44 | ||
| 502 | |a Basel, Univ., Diss., 1971 | ||
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 940 | 1 | |q TUB-nveb | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004706693 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804121549607796736 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Golder, Johannes 1942- |
| author_GND | (DE-588)125618433 |
| author_facet | Golder, Johannes 1942- |
| author_role | aut |
| author_sort | Golder, Johannes 1942- |
| author_variant | j g jg |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV007314654 |
| ctrlnum | (OCoLC)633696895 (DE-599)BVBBV007314654 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01095nam a2200301 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV007314654</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">930421s1972 m2|| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)633696895</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV007314654</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Golder, Johannes</subfield><subfield code="d">1942-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)125618433</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren</subfield><subfield code="b">I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1972</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">S.387-886</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Basel, Diss.. - Aus HPA.44.1971</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Aus: HPA ; Vol. 44</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Basel, Univ., Diss., 1971</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">TUB-nveb</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004706693</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV007314654 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T16:59:45Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004706693 |
| oclc_num | 633696895 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-355 DE-BY-UBR DE-29T DE-19 DE-BY-UBM DE-83 DE-188 |
| owner_facet | DE-355 DE-BY-UBR DE-29T DE-19 DE-BY-UBM DE-83 DE-188 |
| physical | S.387-886 |
| psigel | TUB-nveb |
| publishDate | 1972 |
| publishDateSearch | 1972 |
| publishDateSort | 1972 |
| record_format | marc |
| spelling | Golder, Johannes 1942- Verfasser (DE-588)125618433 aut Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren 1972 S.387-886 txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Basel, Diss.. - Aus HPA.44.1971 Aus: HPA ; Vol. 44 Basel, Univ., Diss., 1971 (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| spellingShingle | Golder, Johannes 1942- Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| subject_GND | (DE-588)4113937-9 |
| title | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_auth | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_exact_search | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_full | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_fullStr | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_full_unstemmed | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| title_short | Über den Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren |
| title_sort | uber den charge pumping effekt bei mos transistoren i untersuchung d zusammenhangs zwischen grenzschichtzustanden u charge pumping effekt bei mos transistoren ii erweiterte unters d differentiellen charge pumping effekts bei mds transistoren |
| title_sub | I. Untersuchung d. Zusammenhangs zwischen Grenzschichtzuständen u. Charge Pumping-Effekt bei MOS-Transistoren. II. Erweiterte Unters. d. differentiellen Charge Pumping-Effekts bei MDS-Transistoren |
| topic_facet | Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT golderjohannes uberdenchargepumpingeffektbeimostransistoreniuntersuchungdzusammenhangszwischengrenzschichtzustandenuchargepumpingeffektbeimostransistoreniierweiterteuntersddifferentiellenchargepumpingeffektsbeimdstransistoren |