Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1966
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Stuttgart, Techn.Hochsch., Diss., 1966 |
| Beschreibung: | 250 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV007187580 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19981112 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 930421s1966 ad|| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)56090081 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV007187580 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-355 |a DE-19 |a DE-29 | ||
| 100 | 1 | |a Bleher, Hartmut |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen |c vorgelegt von Hartmut Bleher |
| 264 | 1 | |c 1966 | |
| 300 | |a 250 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Stuttgart, Techn.Hochsch., Diss., 1966 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Temperaturmessung |0 (DE-588)4133187-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Tieftemperatur |0 (DE-588)4134801-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Halbleiter |0 (DE-588)4022993-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Tieftemperatur |0 (DE-588)4134801-1 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Temperaturmessung |0 (DE-588)4133187-4 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004596309 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804121393047011328 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Bleher, Hartmut |
| author_facet | Bleher, Hartmut |
| author_role | aut |
| author_sort | Bleher, Hartmut |
| author_variant | h b hb |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV007187580 |
| ctrlnum | (OCoLC)56090081 (DE-599)BVBBV007187580 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01266nam a2200349 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV007187580</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19981112 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">930421s1966 ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)56090081</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV007187580</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-29</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Bleher, Hartmut</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Hartmut Bleher</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1966</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">250 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Stuttgart, Techn.Hochsch., Diss., 1966</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Temperaturmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133187-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Tieftemperatur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4134801-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4022993-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Tieftemperatur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4134801-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Temperaturmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133187-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004596309</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV007187580 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T16:57:16Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-004596309 |
| oclc_num | 56090081 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-355 DE-BY-UBR DE-19 DE-BY-UBM DE-29 |
| owner_facet | DE-355 DE-BY-UBR DE-19 DE-BY-UBM DE-29 |
| physical | 250 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 1966 |
| publishDateSearch | 1966 |
| publishDateSort | 1966 |
| record_format | marc |
| spelling | Bleher, Hartmut Verfasser aut Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen vorgelegt von Hartmut Bleher 1966 250 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Stuttgart, Techn.Hochsch., Diss., 1966 Temperaturmessung (DE-588)4133187-4 gnd rswk-swf Tieftemperatur (DE-588)4134801-1 gnd rswk-swf Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Halbleiter (DE-588)4022993-2 s Tieftemperatur (DE-588)4134801-1 s Temperaturmessung (DE-588)4133187-4 s DE-604 |
| spellingShingle | Bleher, Hartmut Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen Temperaturmessung (DE-588)4133187-4 gnd Tieftemperatur (DE-588)4134801-1 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4133187-4 (DE-588)4134801-1 (DE-588)4022993-2 (DE-588)4113937-9 |
| title | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen |
| title_auth | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen |
| title_exact_search | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen |
| title_full | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen vorgelegt von Hartmut Bleher |
| title_fullStr | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen vorgelegt von Hartmut Bleher |
| title_full_unstemmed | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen vorgelegt von Hartmut Bleher |
| title_short | Über eine Messeinrichtung zur Messung der elektrischen Gleichstrom- und Mikrowellen-Eigenschaften von Halbleitern bei tiefen Temperaturen |
| title_sort | uber eine messeinrichtung zur messung der elektrischen gleichstrom und mikrowellen eigenschaften von halbleitern bei tiefen temperaturen |
| topic | Temperaturmessung (DE-588)4133187-4 gnd Tieftemperatur (DE-588)4134801-1 gnd Halbleiter (DE-588)4022993-2 gnd |
| topic_facet | Temperaturmessung Tieftemperatur Halbleiter Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT bleherhartmut ubereinemesseinrichtungzurmessungderelektrischengleichstromundmikrowelleneigenschaftenvonhalbleiternbeitiefentemperaturen |