Proceedings: Jan. 23 - 25, 1990, Fairmont Hotel, San Francisco, Calif., USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Wafer Scale Integration San Francisco, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Soc. Pr. 1990
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 342 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0818690135
0818660139

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