Structural and chemical analysis of materials: X-ray, electron and neutron diffraction ; X-ray, electron and ion spectrometry ; electron microscopy
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Eberhart, Jean P. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
French
Veröffentlicht: Chichester u.a. Wiley 1991
Schlagworte:
Beschreibung:XXX, 545 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0471929778
0471950149

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