Beam injection assessment of defects in semiconductors: 2nd international Workshop Meudon-Bellevue, France, 15 - 18 July 1991
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Les Ulis Ed. de Physique 1992
Schriftenreihe:Journal de physique / 4 1991,6.: Journal de physique 3,12: Supplément.
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 354 S. Ill., graph. Darst.

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