Untersuchung des Einflusses von Dotierungen auf das Kristallpotential von Silizium durch Beugung im konvergenten Elektronenbündel:
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Bibliographic Details
Main Author: Voss, Rainer (Author)
Format: Microfilm Book
Language:Undetermined
Published: 1979
Subjects:
Item Description:Berlin (West), Techn.Univ., Diss.
Physical Description:92, 23 ungez.S.auf 2 Microfiches: Ill., graph.Darst.

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