Spektroskopische Untersuchungen von Oberflächenzuständen an der reinen Siliziumspaltfläche mit Hilfe der Oberflächenphotospannung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Clabes, Joachim (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1978
Schlagworte:
Beschreibung:Clausthal, Diss.
Beschreibung:84, ca 26 S.: zahlr.graph.Darst.

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