Oberflächenstruktur und Debye-Waller-Faktor reiner Si(111)-Spaltflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Auer, Peter P. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1978
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Diss.
Beschreibung:118 S.: Ill., graph.Darst.

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