Elektronenmikroskopische Untersuchungen von Fehlstellenagglomeraten in Niob-Folien nach 5keV Argon-Ionen Beschuß:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Gotthardt, Rolf (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Stuttgart 1977
Schlagworte:
Beschreibung:Stuttgart, Diss.
Beschreibung:86 S.: Ill., graph.Darst., Tab.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!