Methoden der Dünnschliffmikroskopie:
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Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Clausthal-Zellerfeld
Pilger
1981
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Ausgabe: | 3., neubearb. Aufl. |
Schriftenreihe: | Clausthaler tektonische Hefte
14 |
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adam_text | Titel: Methoden der Dünnschliffmikroskopie
Autor: Müller, Georg
Jahr: 1981
INHALTSVERZEICHNIS Seite
Vorwort der Verfasser
1 . Das Mikroskop 1
1.1 Lupe und Mikroskop 1
1.1.1 Abbildung durch eine Sammellinse (Objektiv) 1
1.1.2 Vergrößerung durch die Lupe (Okular) 4
1.1.3 Das Mikroskop 5
1 .2 Objektive und Okulare 7
1.2.1 Objektive 7
- Korrektionszustand 7
- Apertur und Auflösungsvermögen 9
1.2.2 Okulare 11
1.2.3 Tubus, Objektiv und Okular 12
1.3 Beleuchtung 14
1.3.1 Beleuchtungsapertur 15
1.3.2 Leuchtfeld 17
1.3.3 Mattscheibe und Filter 18
1.3.4 Köhler sche Beleuchtung 18
1.4 Strahlengang im Mikroskop 19
1.4.1 Orthoskopische Abbildung 19
1.4.2 Konoskopische Abbildung 20
1.5 Zentrieren des Mikroskops 22
1.5.1 Zentrieren der Objektive 23
1.5.2 Zentrieren des Kondensors nach Köhler 25
1.5.3 Zentrieren der Lichtquelle 25
1 .6 Polarisator und Analysator 26
1.7 Praktische Hinweise zur Handhabung und
Pflege des Mikroskops 28
1.7.1 Optimale Abbildung des Präparats 28
1.7.2 Behebung mangelhafter Ausleuchtung 29
1.7.3 Fehlerquellen bei der Arbeit mit gekreuzten
Polarisatoren 31
1.7.4 Pflege des Mikroskops 32
Literatur zu Kap. 1 33
Seite
2. Messung von Winkeln, Längen und Dicken 34
2.1 Winkelmessung 34
2.2 Längenmessung 37
2.3 Dickenbestimmung 4O
- Eichung des Hubs 42
Literatur zu Kap. 2 43
3. Lichtbrechung 44
3.1 Theoretische Grundlagen 44
3.1.1 Modelle des Lichtes 44
3.1.2 Lichtbrechung 47
3.1.3 Dispersion 5O
3.2 Methoden der Lichtbrechungsbestimmung 51
3.2.1 Chagrin und Relief 51
3.2.2 Becke-Linie 54
3.2.3 Methode nach Schröder van der Kolk 57
3.2.4 Iiranersionsmethoden 59
- Einfache Immersionsmethode 59
- Variationsmethoden 61
Literatur zu Kap. 3 63
4. Doppelbrechung und Polarisation 66
4.1 Theoretische Grundlagen 66
4.1.1 Indikatrix 68
4.2 Dünnschliff im orthoskopischen Strahlengang 73
- Beobachtung ohne eingeschalteten Analysator,
Hellfeld 75
- Beobachtung mit eingeschaltetem Analysator,
gekreuzte Polarisatoren 75
4.2.1 Schwingungsrichtung und Auslöschungswinkel 87
- Optisch einachsige Kristalle 91
- Optisch zweiachsige Kristalle 91
Seite
4.2.2 Optischer Charakter der Auslöschungs-
richtung 95
- Bestimmung des optischen Charakters
von optisch einachsigen Mineralen, die
stengelig nach ihrer kristallographischen
c-Achse ausgebildet sind 103
- Bestimmung des Auslöschungscharakters
von säulig, tafelig oder blättrig aus-
gebildeten Mineralen in leistenförmigen
Kornschnitten des Dünnschliffes 104
- Orientierung des Minerals für die Mes-
sung der Doppelbrechung 106
- Orientierung des Minerals für die Be-
stimmung eines definierten Lichtbre-
chungswertes 106
- Bestimmung der Eigenfarbe in einer de-
finierten Schwingungsrichtung 106
- Unterscheidung von Zwillingsgesetzen 107
- Bestimmung der Indikatrixachsen bei der
UD-Tischmessung 107
4.2.3 Doppelbrechung 108
- Michel-Lévy-Tafel 108
- Dickenbestimmung 108
- Bestimmung der Doppelbrechung 110
- Anomale Interferenzfarben 111
- Überlagerung der Interferenzfarbe mit
der Eigenfarbe 112
- Kompensation 113
Literatur zu Kap. 4 114
5. Konoskopische Methoden 116
5.1 Theoretische Grundlagen 116
5.2 Interferenzbilder der optisch einachsigen
Minerale 123
5.2.1 Schnitt senkrecht zur optischen Achse 123
5.2.2 Schnitt schräg zur optischen Achse 124
5.2.3 Schnitt parallel zur optischen Achse 126
Seite
5.3 Interferenzbilder der optisch zweiachsi-
gen Minerale 126
5.3.1 Schnitt senkrecht zur spitzen Bisektrix 126
5.3.2 Andere Schnittlagen 128
5.4 Bestimmung des optischen Charakters 129
- Optisch einachsige Minerale 129
- Optisch zweiachsige Minerale 132
5.5 Bestimmung des optischen Achsenwinkels
zweiachsiger Minerale 134
5.5.1 Mallard-Methode 13 4
- Eichverfahren 135
5.6 Praktische Hinweise zur Konoskopie 138
Literatur zu Kap. 5 140
6. Gang einer Mineralbestimmung 141
Literatur zu Kap. 6 142
7. Modalanalyse 143
Literatur zu Kap. 7 147
Sachregister 148
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