Zur Messung des Dotierungsprofils in Halbleiter-Dioden: 1. Eine Methode zur Messung d. Dotierungsprofils von Halbleiter-Dioden. 2. Die Bestimmung d. Dotierungsprofils in Dioden mit großer Haftstellendichte
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| Beschreibung: | Aus: Helvetica physica acta. Vol.44,2. 1971. Vol.45,5. 1972 Enth.: Eine Methode zur Messung des Dotierungsprofils von Halbleiter-Dioden. - Die Bestimmung des Dotierungs-Profils in Dioden mit grosser Haftstellendichte |
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