Lehmann, B. (1991). Strahlenschädigung durch Hochenergieelektronen in GaAs: Eine DLTS-Untersuchung. HMI, Bereich Datenverarbeitung und Elektronik.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Lehmann, Bertel. Strahlenschädigung Durch Hochenergieelektronen in GaAs: Eine DLTS-Untersuchung. Berlin: HMI, Bereich Datenverarbeitung und Elektronik, 1991.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Lehmann, Bertel. Strahlenschädigung Durch Hochenergieelektronen in GaAs: Eine DLTS-Untersuchung. HMI, Bereich Datenverarbeitung und Elektronik, 1991.
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