Verfügbarkeit: Strahlenschädigung durch Hochenergieelektronen in GaAs

Strahlenschädigung durch Hochenergieelektronen in GaAs: eine DLTS-Untersuchung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Lehmann, Bertel (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin HMI, Bereich Datenverarbeitung und Elektronik 1991
Schriftenreihe:	Hahn-Meitner-Institut <Berlin>: Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 494
Schlagworte:	Elektronenbestrahlung Galliumarsenid Hochenergiestrahl Strahlenschaden Elektronenstrahl Hochschulschrift
Beschreibung:	Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1991
Beschreibung:	157 S. graph. Darst.

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