Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II - VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Abschlussarbeit Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1991
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| Ausgabe: | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Würzburg, Univ., Diss., 1991. - Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x |
| Beschreibung: | VIII, 151 S. graph. Darst. |
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