Untersuchungen ultradünner Vanadium- und Palladium-Schichten auf W{110} mit LEED, AES, TDS und CPD:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Voss, Eckart (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1991
Schlagworte:
Beschreibung:Köln, Univ., Diss., 1991
Beschreibung:64 S. Ill., graph. Darst.

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