Haftstellenanalyse an inhomogen dotiertem Galliumarsenid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Engemann, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1975
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Fak. f. Elektrotechnik, Diss.
Beschreibung:IX, 118 S. 8-o

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!