Machine vision for inspection and measurement:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston u.a. Academic Press 1989
Schriftenreihe:Perspectives in computing 24
Schlagworte:
Beschreibung:X, 320 S. Ill. und graph. Darst.
ISBN:0122667190

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