Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
1991
|
Schlagworte: | |
Beschreibung: | München, Technische Univ., Diss., 1991 |
Beschreibung: | XI, 144 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV004591559 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 00000000000000.0 | ||
007 | t | ||
008 | 911106s1991 d||| m||| 00||| gerod | ||
035 | |a (OCoLC)256068185 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV004591559 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-91 |a DE-12 |a DE-29T |a DE-706 |a DE-83 |a DE-11 | ||
084 | |a ELT 359d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Fuchs, Karl |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen |c Karl Fuchs |
264 | 1 | |c 1991 | |
300 | |a XI, 144 S. |b graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
500 | |a München, Technische Univ., Diss., 1991 | ||
650 | 0 | 7 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Digitale integrierte Schaltung |0 (DE-588)4113313-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Digitale integrierte Schaltung |0 (DE-588)4113313-4 |D s |
689 | 0 | 2 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002823117 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804118716917481472 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Fuchs, Karl |
author_facet | Fuchs, Karl |
author_role | aut |
author_sort | Fuchs, Karl |
author_variant | k f kf |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV004591559 |
classification_tum | ELT 359d |
ctrlnum | (OCoLC)256068185 (DE-599)BVBBV004591559 |
discipline | Elektrotechnik |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01274nam a2200361 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV004591559</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">911106s1991 d||| m||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)256068185</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV004591559</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 359d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Fuchs, Karl</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen</subfield><subfield code="c">Karl Fuchs</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1991</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XI, 144 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">München, Technische Univ., Diss., 1991</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Digitale integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113313-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Digitale integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113313-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002823117</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV004591559 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T16:14:44Z |
institution | BVB |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002823117 |
oclc_num | 256068185 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 DE-29T DE-706 DE-83 DE-11 |
owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 DE-29T DE-706 DE-83 DE-11 |
physical | XI, 144 S. graph. Darst. |
publishDate | 1991 |
publishDateSearch | 1991 |
publishDateSort | 1991 |
record_format | marc |
spelling | Fuchs, Karl Verfasser aut Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen Karl Fuchs 1991 XI, 144 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier München, Technische Univ., Diss., 1991 VLSI (DE-588)4117388-0 gnd rswk-swf Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 gnd rswk-swf Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 s Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 s VLSI (DE-588)4117388-0 s DE-604 |
spellingShingle | Fuchs, Karl Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen VLSI (DE-588)4117388-0 gnd Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 gnd Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd |
subject_GND | (DE-588)4117388-0 (DE-588)4113313-4 (DE-588)4234817-1 (DE-588)4113937-9 |
title | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
title_auth | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
title_exact_search | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
title_full | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen Karl Fuchs |
title_fullStr | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen Karl Fuchs |
title_full_unstemmed | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen Karl Fuchs |
title_short | Testmustergenerierung zur Erkennung von Laufzeitfehlern in hochintegrierten Schaltungen |
title_sort | testmustergenerierung zur erkennung von laufzeitfehlern in hochintegrierten schaltungen |
topic | VLSI (DE-588)4117388-0 gnd Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 gnd Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd |
topic_facet | VLSI Digitale integrierte Schaltung Testmustergenerierung Hochschulschrift |
work_keys_str_mv | AT fuchskarl testmustergenerierungzurerkennungvonlaufzeitfehlerninhochintegriertenschaltungen |