Characterization of defects in materials: symposium held December 1 - 2 1986, Boston, Massachusetts, USA
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Siegel, Richard W. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Pittsburgh, Pa. 1987
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposia proceedings 82
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:XV, 532 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0931837472

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Inhaltsverzeichnis