Hinsen Isler, H. (1991). Automatische Testgenerierung für CMOS-Fehler durch Modifikation des FAN-Algorithmus. GMD.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hinsen Isler, Heike. Automatische Testgenerierung Für CMOS-Fehler Durch Modifikation Des FAN-Algorithmus. Sankt Augustin: GMD, 1991.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hinsen Isler, Heike. Automatische Testgenerierung Für CMOS-Fehler Durch Modifikation Des FAN-Algorithmus. GMD, 1991.
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