Automatische Testgenerierung für CMOS-Fehler durch Modifikation des FAN-Algorithmus:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hinsen Isler, Heike 1962- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Sankt Augustin GMD 1991
Schriftenreihe:GMD-Studien 194
Schlagworte:
Beschreibung:131 S. Ill.
ISBN:388457194X

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