Defects in silicon: proceedings of Symposium B on Science and Technology of Defects in Silicon of the 1989 E-MRS conference ; Strasbourg, France, 30 May - 2 June 1989
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Ammerlaan, C. A. J. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam u.a. North-Holland 1989
Schriftenreihe:European Materials Research Society: European Materials Research Society symposia proceedings 9
Schlagworte:
Beschreibung:Aus Materials science and engineering Vol. B4
Beschreibung:XII, 505 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:0444886192

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