Proceedings of Symposium B on Science and Technology of Defects in Silicon of the E-MRS meeting: Strasbourg, France, May 30 - June 2, 1989
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium on Science and Technology of Defects in Silicon Straßburg (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Lausanne Elsevier Sequoia 1989
Schriftenreihe:Materials science & engineering : B 4
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben. - Einzelaufnahme eines Zs.-Bandes
Beschreibung:XII, 505 S. Ill., graph. Darst.

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