Untersuchungen von Grenzflächen und Gitterbaufehlern in GaAs mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Jülich
KFA
1990
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Forschungszentrum <Jülich>: Berichte
2382 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1990 |
| Beschreibung: | 134 S. Ill., graph. Darst. |
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