Thaele, R. (1991). Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion (Als Ms. gedr.). VDI Verl.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Thaele, Rolf. Entwicklung Und Systemanalytische Untersuchung Eines Laser-Scan-Mikroskops Mit Integriertoptischer Einseitenbanddetektion. Als Ms. gedr. Düsseldorf: VDI Verl, 1991.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Thaele, Rolf. Entwicklung Und Systemanalytische Untersuchung Eines Laser-Scan-Mikroskops Mit Integriertoptischer Einseitenbanddetektion. Als Ms. gedr. VDI Verl, 1991.
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