Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI Verl.
1991
|
Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8]
232 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 145 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 3181432083 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV004299765 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 00000000000000.0 | ||
007 | t | ||
008 | 910318s1991 ad|| a||| 00||| gerod | ||
020 | |a 3181432083 |9 3-18-143208-3 | ||
035 | |a (OCoLC)75224259 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV004299765 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-91 |a DE-210 |a DE-83 |a DE-B1550 | ||
084 | |a UH 6700 |0 (DE-625)145770: |2 rvk | ||
084 | |a PHY 131d |2 stub | ||
084 | |a PHY 393d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Thaele, Rolf |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion |c Rolf Thaele |
250 | |a Als Ms. gedr. | ||
264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI Verl. |c 1991 | |
300 | |a 145 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8] |v 232 | |
650 | 0 | 7 | |a Integrierte Optik |0 (DE-588)4027240-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Laser-Rastermikroskop |0 (DE-588)4195932-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Einseitenbandverfahren |0 (DE-588)4151400-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
689 | 0 | 0 | |a Laser-Rastermikroskop |0 (DE-588)4195932-2 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Einseitenbandverfahren |0 (DE-588)4151400-2 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Integrierte Optik |0 (DE-588)4027240-0 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
810 | 2 | |a 8] |t Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI |v 232 |w (DE-604)BV000882482 |9 232 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002674107 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804118490961936384 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Thaele, Rolf |
author_facet | Thaele, Rolf |
author_role | aut |
author_sort | Thaele, Rolf |
author_variant | r t rt |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV004299765 |
classification_rvk | UH 6700 |
classification_tum | PHY 131d PHY 393d |
ctrlnum | (OCoLC)75224259 (DE-599)BVBBV004299765 |
discipline | Physik |
edition | Als Ms. gedr. |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01546nam a2200409 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV004299765</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">910318s1991 ad|| a||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3181432083</subfield><subfield code="9">3-18-143208-3</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75224259</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV004299765</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-B1550</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UH 6700</subfield><subfield code="0">(DE-625)145770:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 131d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 393d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Thaele, Rolf</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion</subfield><subfield code="c">Rolf Thaele</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI Verl.</subfield><subfield code="c">1991</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">145 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8]</subfield><subfield code="v">232</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Optik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027240-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Laser-Rastermikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4195932-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Einseitenbandverfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151400-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Laser-Rastermikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4195932-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Einseitenbandverfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151400-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Integrierte Optik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027240-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">8]</subfield><subfield code="t">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI</subfield><subfield code="v">232</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000882482</subfield><subfield code="9">232</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002674107</subfield></datafield></record></collection> |
id | DE-604.BV004299765 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T16:11:08Z |
institution | BVB |
isbn | 3181432083 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002674107 |
oclc_num | 75224259 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-210 DE-83 DE-B1550 |
owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-210 DE-83 DE-B1550 |
physical | 145 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1991 |
publishDateSearch | 1991 |
publishDateSort | 1991 |
publisher | VDI Verl. |
record_format | marc |
series2 | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8] |
spelling | Thaele, Rolf Verfasser aut Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele Als Ms. gedr. Düsseldorf VDI Verl. 1991 145 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8] 232 Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd rswk-swf Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd rswk-swf Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd rswk-swf Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 s Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 s Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 s DE-604 8] Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI 232 (DE-604)BV000882482 232 |
spellingShingle | Thaele, Rolf Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4027240-0 (DE-588)4195932-2 (DE-588)4151400-2 |
title | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion |
title_auth | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion |
title_exact_search | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion |
title_full | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
title_fullStr | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
title_full_unstemmed | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
title_short | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion |
title_sort | entwicklung und systemanalytische untersuchung eines laser scan mikroskops mit integriertoptischer einseitenbanddetektion |
topic | Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd |
topic_facet | Integrierte Optik Laser-Rastermikroskop Einseitenbandverfahren |
volume_link | (DE-604)BV000882482 |
work_keys_str_mv | AT thaelerolf entwicklungundsystemanalytischeuntersuchungeineslaserscanmikroskopsmitintegriertoptischereinseitenbanddetektion |