Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriertoptischer Einseitenbanddetektion:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Thaele, Rolf (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verl. 1991
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8] 232
Schlagworte:
Beschreibung:145 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3181432083

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