Verfügbarkeit: Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Kondensation und Grenzschichtbildung von Ag und Cu aus Si(111)

Rastertunnelmikroskopische Untersuchung der Kondensation und Grenzschichtbildung von Ag und Cu aus Si(111):

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Tosch, Stephan (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1989
Schlagworte:	Silber Rastertunnelmikroskopie Kristallfläche Kupfer Silicium Einkristall Dünne Schicht Hochschulschrift
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