Verfügbarkeit: Dotierung und Defekterzeugung in amorphem Silizium (a-Si:H)

Dotierung und Defekterzeugung in amorphem Silizium (a-Si:H):

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pierz, Klaus (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1990
Schlagworte:	Wasserstoff Elektronenstruktur Silicium Spektroskopie Amorpher Zustand Amorpher Halbleiter Gitterbaufehler Dotierung Hochschulschrift
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