Messung von Diffusionskoeffizienten in Kristallzüchtungsschmelzen von Halbleiterverbindungen nach dem Scherzellenverfahren:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kössler, Robert (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1990
Schlagworte:
Beschreibung:Karlsruhe, Univ., Diss., 1990
Beschreibung:[4], 117 S. Ill., graph. Darst.

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