Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie:
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Bibliographic Details
Main Author: Im, Sung-Woo (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Düsseldorf VDI Verl. 1990
Edition:Als Ms. gedr.
Series:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 5] 201
Subjects:
Item Description:Zugl.: Siegen, Univ., Diss.
Physical Description:XI, 123 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:3181401056

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