Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Im, Sung-Woo (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI Verl. 1990
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 5] 201
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Siegen, Univ., Diss.
Beschreibung:XI, 123 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:3181401056

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!