Im, S. (1990). Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie (Als Ms. gedr.). VDI Verl.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Im, Sung-Woo. Untersuchung Von Mikrorissen Bei Wechselbeanspruchung Durch Laserinterferometrie. Als Ms. gedr. Düsseldorf: VDI Verl, 1990.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Im, Sung-Woo. Untersuchung Von Mikrorissen Bei Wechselbeanspruchung Durch Laserinterferometrie. Als Ms. gedr. VDI Verl, 1990.
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