Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1989
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 109 S. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV004049113 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19940318 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 900823s1989 m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)613435200 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV004049113 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-19 |a DE-355 |a DE-91 |a DE-29T |a DE-83 |a DE-11 |a DE-188 | ||
| 084 | |a PHY 650d |2 stub | ||
| 084 | |a PHY 608d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Necker, Gottfried |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie |c vorgelegt von Gottfried Necker |
| 264 | 1 | |c 1989 | |
| 300 | |a 109 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Stuttgart, Univ., Diss., 1989 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Hochauflösendes Verfahren |0 (DE-588)4287503-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Kristall |0 (DE-588)4033209-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Festkörper |0 (DE-588)4016918-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Grenzfläche |0 (DE-588)4021991-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Durchstrahlungselektronenmikroskop |0 (DE-588)4123096-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Korngrenze |0 (DE-588)4137128-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Kristall |0 (DE-588)4033209-3 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Korngrenze |0 (DE-588)4137128-8 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Grenzfläche |0 (DE-588)4021991-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Festkörper |0 (DE-588)4016918-2 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Durchstrahlungselektronenmikroskop |0 (DE-588)4123096-6 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |D s |
| 689 | 1 | 4 | |a Hochauflösendes Verfahren |0 (DE-588)4287503-1 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002532633 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804118283470766081 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Necker, Gottfried |
| author_facet | Necker, Gottfried |
| author_role | aut |
| author_sort | Necker, Gottfried |
| author_variant | g n gn |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV004049113 |
| classification_tum | PHY 650d PHY 608d |
| ctrlnum | (OCoLC)613435200 (DE-599)BVBBV004049113 |
| discipline | Physik |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01914nam a2200493 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV004049113</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19940318 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">900823s1989 m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)613435200</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV004049113</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 650d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 608d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Necker, Gottfried</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Gottfried Necker</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">109 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Stuttgart, Univ., Diss., 1989</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Hochauflösendes Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4287503-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Kristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4033209-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Festkörper</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016918-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Grenzfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4021991-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Durchstrahlungselektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123096-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Korngrenze</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137128-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Kristall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4033209-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Korngrenze</subfield><subfield code="0">(DE-588)4137128-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Grenzfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4021991-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Festkörper</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016918-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Durchstrahlungselektronenmikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123096-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="4"><subfield code="a">Hochauflösendes Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4287503-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002532633</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV004049113 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T16:07:44Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-002532633 |
| oclc_num | 613435200 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-19 DE-BY-UBM DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-29T DE-83 DE-11 DE-188 |
| owner_facet | DE-19 DE-BY-UBM DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-29T DE-83 DE-11 DE-188 |
| physical | 109 S. |
| publishDate | 1989 |
| publishDateSearch | 1989 |
| publishDateSort | 1989 |
| record_format | marc |
| spelling | Necker, Gottfried Verfasser aut Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie vorgelegt von Gottfried Necker 1989 109 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Stuttgart, Univ., Diss., 1989 Hochauflösendes Verfahren (DE-588)4287503-1 gnd rswk-swf Kristall (DE-588)4033209-3 gnd rswk-swf Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd rswk-swf Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd rswk-swf Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd rswk-swf Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd rswk-swf Korngrenze (DE-588)4137128-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 s Kristall (DE-588)4033209-3 s Korngrenze (DE-588)4137128-8 s DE-604 Grenzfläche (DE-588)4021991-4 s Festkörper (DE-588)4016918-2 s Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 s Hochauflösendes Verfahren (DE-588)4287503-1 s |
| spellingShingle | Necker, Gottfried Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie Hochauflösendes Verfahren (DE-588)4287503-1 gnd Kristall (DE-588)4033209-3 gnd Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd Korngrenze (DE-588)4137128-8 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4287503-1 (DE-588)4033209-3 (DE-588)4016918-2 (DE-588)4021991-4 (DE-588)4014327-2 (DE-588)4123096-6 (DE-588)4137128-8 (DE-588)4113937-9 |
| title | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie |
| title_auth | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie |
| title_exact_search | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie |
| title_full | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie vorgelegt von Gottfried Necker |
| title_fullStr | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie vorgelegt von Gottfried Necker |
| title_full_unstemmed | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie vorgelegt von Gottfried Necker |
| title_short | Untersuchung der Struktur innerer Grenzflächen mit Hilfe der quantitativen hochauflösenden Elektronenmikroskopie |
| title_sort | untersuchung der struktur innerer grenzflachen mit hilfe der quantitativen hochauflosenden elektronenmikroskopie |
| topic | Hochauflösendes Verfahren (DE-588)4287503-1 gnd Kristall (DE-588)4033209-3 gnd Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd Durchstrahlungselektronenmikroskop (DE-588)4123096-6 gnd Korngrenze (DE-588)4137128-8 gnd |
| topic_facet | Hochauflösendes Verfahren Kristall Festkörper Grenzfläche Elektronenmikroskopie Durchstrahlungselektronenmikroskop Korngrenze Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT neckergottfried untersuchungderstrukturinnerergrenzflachenmithilfederquantitativenhochauflosendenelektronenmikroskopie |