Statistical analysis of measurement errors:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Jaech, John L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York u.a. Wiley 1985
Schriftenreihe:Exxon monographs
Schlagworte:
Beschreibung:XXIII, 293 S.
ISBN:0471827312

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