Feinstrukturell-morphometrische Untersuchungen mit dem manuell-optischen Bildanalysensystem MOP KM II der Firma Kontron:
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Bibliographic Details
Format: Book
Language:German
Published: Opladen Westdt. Verl. 1976
Series:Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 2582
Subjects:
Physical Description:48 S. graph. Darst.
ISBN:3531025821

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