Feinstrukturell-morphometrische Untersuchungen mit dem manuell-optischen Bildanalysensystem MOP KM II der Firma Kontron:
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
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| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Opladen
Westdt. Verl.
1976
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| Schriftenreihe: | Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen
2582 |
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| Beschreibung: | 48 S. graph. Darst. |
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