(1976). Feinstrukturell-morphometrische Untersuchungen mit dem manuell-optischen Bildanalysensystem MOP KM II der Firma Kontron. Westdt. Verl.
Chicago Style (17th ed.) CitationFeinstrukturell-morphometrische Untersuchungen Mit Dem Manuell-optischen Bildanalysensystem MOP KM II Der Firma Kontron. Opladen: Westdt. Verl, 1976.
MLA (9th ed.) CitationFeinstrukturell-morphometrische Untersuchungen Mit Dem Manuell-optischen Bildanalysensystem MOP KM II Der Firma Kontron. Westdt. Verl, 1976.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.