Meeting the tests of time: proceedings ; 20th anniversary
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Washington u.a. IEEE Comp. Soc. Pr. 1989
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:XXXIV, 959 S. graph. Darst.
ISBN:0818659629
0818689625

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