Herstellung und ramanspektroskopische Untersuchungen epitaktischer Schichten von Ge, SiGe-Mischkristallen und Si/Ge Übergittern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Alonso, Maria I. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Beschreibung:197 S. Ill., graph. Darst.

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