Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen:
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Sankt Augustin
GMD
1989
|
| Series: | GMD-Studien
174 |
| Subjects: | |
| Physical Description: | 282 S. Ill. |
| ISBN: | 3884571745 |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV002468793 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20100224 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 891127s1989 gw a||| |||| 00||| ger d | ||
| 020 | |a 3884571745 |9 3-88457-174-5 | ||
| 035 | |a (OCoLC)246448100 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV002468793 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw |c DE | ||
| 049 | |a DE-91 |a DE-91G |a DE-210 |a DE-12 |a DE-703 |a DE-739 |a DE-862 | ||
| 084 | |a SI 213 |0 (DE-625)143105: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZN 4960 |0 (DE-625)157426: |2 rvk | ||
| 084 | |a ELT 468f |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Hübner, Uwe |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen |c Uwe Hübner |
| 264 | 1 | |a Sankt Augustin |b GMD |c 1989 | |
| 300 | |a 282 S. |b Ill. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a GMD-Studien |v 174 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 830 | 0 | |a GMD-Studien |v 174 |w (DE-604)BV035611570 |9 174 | |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802 | |
Record in the Search Index
| DE-BY-862_location | 2801 |
|---|---|
| DE-BY-FWS_call_number | 2900/03354 |
| DE-BY-FWS_katkey | 366068 |
| DE-BY-FWS_media_number | 083000248370 |
| _version_ | 1824555547466137600 |
| adam_text | |
| any_adam_object | |
| author | Hübner, Uwe |
| author_facet | Hübner, Uwe |
| author_role | aut |
| author_sort | Hübner, Uwe |
| author_variant | u h uh |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV002468793 |
| classification_rvk | SI 213 ZN 4030 ZN 4960 |
| classification_tum | ELT 468f |
| ctrlnum | (OCoLC)246448100 (DE-599)BVBBV002468793 |
| discipline | Elektrotechnik Mathematik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV002468793</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20100224</controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">891127s1989 gw a||| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3884571745</subfield><subfield code="9">3-88457-174-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)246448100</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002468793</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield><subfield code="a">DE-862</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SI 213</subfield><subfield code="0">(DE-625)143105:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4960</subfield><subfield code="0">(DE-625)157426:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 468f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hübner, Uwe</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen</subfield><subfield code="c">Uwe Hübner</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Sankt Augustin</subfield><subfield code="b">GMD</subfield><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">282 S.</subfield><subfield code="b">Ill.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">174</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">174</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV035611570</subfield><subfield code="9">174</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV002468793 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2025-02-20T07:09:24Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3884571745 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802 |
| oclc_num | 246448100 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-12 DE-703 DE-739 DE-862 DE-BY-FWS |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-12 DE-703 DE-739 DE-862 DE-BY-FWS |
| physical | 282 S. Ill. |
| publishDate | 1989 |
| publishDateSearch | 1989 |
| publishDateSort | 1989 |
| publisher | GMD |
| record_format | marc |
| series | GMD-Studien |
| series2 | GMD-Studien |
| spellingShingle | Hübner, Uwe Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen GMD-Studien Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4234817-1 (DE-588)4148111-2 |
| title | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen |
| title_auth | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen |
| title_exact_search | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen |
| title_full | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner |
| title_fullStr | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner |
| title_full_unstemmed | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner |
| title_short | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen |
| title_sort | testmustergenerierung mit hoher fehleruberdeckung fur cmos schaltungen |
| topic | Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd |
| topic_facet | Testmustergenerierung CMOS-Schaltung |
| volume_link | (DE-604)BV035611570 |
| work_keys_str_mv | AT hubneruwe testmustergenerierungmithoherfehleruberdeckungfurcmosschaltungen |
THWS Schweinfurt Magazin
| Call Number: |
2900 03354 |
|---|---|
| Copy 1 | bestellbar aus dem Magazin Available Place a Hold |