Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Sankt Augustin
GMD
1989
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| Schriftenreihe: | GMD-Studien
174 |
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