APA (7th ed.) Citation

Hübner, U. (1989). Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen. GMD.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Hübner, Uwe. Testmustergenerierung Mit Hoher Fehlerüberdeckung Für CMOS-Schaltungen. Sankt Augustin: GMD, 1989.

MLA (9th ed.) Citation

Hübner, Uwe. Testmustergenerierung Mit Hoher Fehlerüberdeckung Für CMOS-Schaltungen. GMD, 1989.

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