Hübner, U. (1989). Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen. GMD.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hübner, Uwe. Testmustergenerierung Mit Hoher Fehlerüberdeckung Für CMOS-Schaltungen. Sankt Augustin: GMD, 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hübner, Uwe. Testmustergenerierung Mit Hoher Fehlerüberdeckung Für CMOS-Schaltungen. GMD, 1989.
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