Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM):
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Sankt Augustin
GMD
1989
|
Schriftenreihe: | GMD-Studien
172 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 192 S. graph. Darst. |
ISBN: | 3884571729 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV002464474 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20030428 | ||
007 | t| | ||
008 | 891120s1989 gw d||| |||| 00||| ger d | ||
020 | |a 3884571729 |9 3-88457-172-9 | ||
035 | |a (OCoLC)29373366 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV002464474 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c DE | ||
049 | |a DE-91 |a DE-91G |a DE-12 |a DE-210 |a DE-703 |a DE-739 |a DE-706 | ||
050 | 0 | |a TK7895.M4 | |
084 | |a SI 213 |0 (DE-625)143105: |2 rvk | ||
084 | |a ST 175 |0 (DE-625)143603: |2 rvk | ||
084 | |a ST 190 |0 (DE-625)143607: |2 rvk | ||
084 | |a DAT 170f |2 stub | ||
084 | |a DAT 408f |2 stub | ||
100 | 1 | |a Gläser, Uwe |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) |c Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen |
264 | 1 | |a Sankt Augustin |b GMD |c 1989 | |
300 | |a 192 S. |b graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a GMD-Studien |v 172 | |
650 | 4 | |a Associative storage | |
650 | 4 | |a Fault-tolerant computing | |
650 | 4 | |a Random access memory | |
650 | 0 | 7 | |a Assoziativspeicher |0 (DE-588)4124575-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehlertoleranz |0 (DE-588)4123192-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
689 | 0 | 0 | |a Assoziativspeicher |0 (DE-588)4124575-1 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Fehlertoleranz |0 (DE-588)4123192-2 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Assoziativspeicher |0 (DE-588)4124575-1 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Fehlererkennung |0 (DE-588)4133764-5 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
700 | 1 | |a Steinhausen, Uwe |e Verfasser |4 aut | |
830 | 0 | |a GMD-Studien |v 172 |w (DE-604)BV035611570 |9 172 | |
943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001592687 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1820693337471975424 |
---|---|
adam_text | |
any_adam_object | |
author | Gläser, Uwe Steinhausen, Uwe |
author_facet | Gläser, Uwe Steinhausen, Uwe |
author_role | aut aut |
author_sort | Gläser, Uwe |
author_variant | u g ug u s us |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV002464474 |
callnumber-first | T - Technology |
callnumber-label | TK7895 |
callnumber-raw | TK7895.M4 |
callnumber-search | TK7895.M4 |
callnumber-sort | TK 47895 M4 |
callnumber-subject | TK - Electrical and Nuclear Engineering |
classification_rvk | SI 213 ST 175 ST 190 |
classification_tum | DAT 170f DAT 408f |
ctrlnum | (OCoLC)29373366 (DE-599)BVBBV002464474 |
discipline | Informatik Mathematik |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV002464474</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20030428</controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">891120s1989 gw d||| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3884571729</subfield><subfield code="9">3-88457-172-9</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)29373366</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002464474</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="050" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">TK7895.M4</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SI 213</subfield><subfield code="0">(DE-625)143105:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ST 175</subfield><subfield code="0">(DE-625)143603:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ST 190</subfield><subfield code="0">(DE-625)143607:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DAT 170f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DAT 408f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Gläser, Uwe</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM)</subfield><subfield code="c">Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Sankt Augustin</subfield><subfield code="b">GMD</subfield><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">192 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">172</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Associative storage</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Fault-tolerant computing</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Random access memory</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Assoziativspeicher</subfield><subfield code="0">(DE-588)4124575-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlertoleranz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123192-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Assoziativspeicher</subfield><subfield code="0">(DE-588)4124575-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Fehlertoleranz</subfield><subfield code="0">(DE-588)4123192-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Assoziativspeicher</subfield><subfield code="0">(DE-588)4124575-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Fehlererkennung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133764-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Steinhausen, Uwe</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">172</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV035611570</subfield><subfield code="9">172</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001592687</subfield></datafield></record></collection> |
id | DE-604.BV002464474 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2025-01-08T15:01:13Z |
institution | BVB |
isbn | 3884571729 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001592687 |
oclc_num | 29373366 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-12 DE-210 DE-703 DE-739 DE-706 |
owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-12 DE-210 DE-703 DE-739 DE-706 |
physical | 192 S. graph. Darst. |
publishDate | 1989 |
publishDateSearch | 1989 |
publishDateSort | 1989 |
publisher | GMD |
record_format | marc |
series | GMD-Studien |
series2 | GMD-Studien |
spelling | Gläser, Uwe Verfasser aut Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen Sankt Augustin GMD 1989 192 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier GMD-Studien 172 Associative storage Fault-tolerant computing Random access memory Assoziativspeicher (DE-588)4124575-1 gnd rswk-swf Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd rswk-swf Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd rswk-swf Assoziativspeicher (DE-588)4124575-1 s Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 s DE-604 Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 s Steinhausen, Uwe Verfasser aut GMD-Studien 172 (DE-604)BV035611570 172 |
spellingShingle | Gläser, Uwe Steinhausen, Uwe Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) GMD-Studien Associative storage Fault-tolerant computing Random access memory Assoziativspeicher (DE-588)4124575-1 gnd Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4124575-1 (DE-588)4133764-5 (DE-588)4123192-2 |
title | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) |
title_auth | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) |
title_exact_search | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) |
title_full | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen |
title_fullStr | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen |
title_full_unstemmed | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) Uwe Gläser ; Uwe Steinhausen |
title_short | Fehlererkennung und Fehlertoleranz beim assoziativen RAM-Speicher (ARAM) |
title_sort | fehlererkennung und fehlertoleranz beim assoziativen ram speicher aram |
topic | Associative storage Fault-tolerant computing Random access memory Assoziativspeicher (DE-588)4124575-1 gnd Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd Fehlertoleranz (DE-588)4123192-2 gnd |
topic_facet | Associative storage Fault-tolerant computing Random access memory Assoziativspeicher Fehlererkennung Fehlertoleranz |
volume_link | (DE-604)BV035611570 |
work_keys_str_mv | AT glaseruwe fehlererkennungundfehlertoleranzbeimassoziativenramspeicheraram AT steinhausenuwe fehlererkennungundfehlertoleranzbeimassoziativenramspeicheraram |