Optische Reflexionsmeßverfahren zur Fehlerlokalisation im Millimeterbereich mit Anwendung auf mikrooptische Bauteile und integriert-optische Strukturen der LWL-Technik:
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Bibliographic Details
Main Author: Manzke, Christina (Author)
Format: Book
Language:German
Published: 1989
Subjects:
Item Description:Berlin, Univ., Diss.
Physical Description:65, A7, T3 Bl. graph. Darst.

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