Optische Reflexionsmeßverfahren zur Fehlerlokalisation im Millimeterbereich mit Anwendung auf mikrooptische Bauteile und integriert-optische Strukturen der LWL-Technik:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Manzke, Christina (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Beschreibung:Berlin, Univ., Diss.
Beschreibung:65, A7, T3 Bl. graph. Darst.

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