Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
1989
|
| Schriftenreihe: | Berichte des Hahn-Meitner-Instituts / Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West>
465 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988 |
| Beschreibung: | 128 S. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV002424156 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19900809 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 900118s1989 m||| 00||| gerod | ||
| 035 | |a (OCoLC)165713428 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV002424156 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-12 |a DE-91 |a DE-11 | ||
| 084 | |a ELT 364d |2 stub | ||
| 084 | |a PHY 699d |2 stub | ||
| 088 | |a HMI B 465 | ||
| 100 | 1 | |a Wulf, Friedrich |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| 246 | 1 | 3 | |a HMI B 465 |
| 264 | 1 | |a Berlin |c 1989 | |
| 300 | |a 128 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Berichte des Hahn-Meitner-Instituts / Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West> |v 465 | |
| 500 | |a Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Stress |0 (DE-588)4058047-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS |0 (DE-588)4130209-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Grenzfläche |0 (DE-588)4021991-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Ausheilung |0 (DE-588)4192968-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Bestrahlung |0 (DE-588)4144952-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Wärmespannung |0 (DE-588)4188868-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Gitterbaufehler |0 (DE-588)4125030-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a MOS |0 (DE-588)4130209-6 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Stress |0 (DE-588)4058047-7 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Ausheilung |0 (DE-588)4192968-8 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Bestrahlung |0 (DE-588)4144952-6 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |D s |
| 689 | 2 | 2 | |a Wärmespannung |0 (DE-588)4188868-6 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |D s |
| 689 | 3 | 1 | |a Gitterbaufehler |0 (DE-588)4125030-8 |D s |
| 689 | 3 | 2 | |a Ausheilung |0 (DE-588)4192968-8 |D s |
| 689 | 3 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 4 | 0 | |a Siliciumdioxid |0 (DE-588)4077447-8 |D s |
| 689 | 4 | 1 | |a Ausheilung |0 (DE-588)4192968-8 |D s |
| 689 | 4 | 2 | |a Grenzfläche |0 (DE-588)4021991-4 |D s |
| 689 | 4 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 810 | 2 | |a Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West> |t Berichte des Hahn-Meitner-Instituts |v 465 |w (DE-604)BV024777415 |9 465 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001573442 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804116847567568896 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Wulf, Friedrich |
| author_facet | Wulf, Friedrich |
| author_role | aut |
| author_sort | Wulf, Friedrich |
| author_variant | f w fw |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV002424156 |
| classification_tum | ELT 364d PHY 699d |
| ctrlnum | (OCoLC)165713428 (DE-599)BVBBV002424156 |
| discipline | Physik Elektrotechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02866nam a2200721 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV002424156</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19900809 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">900118s1989 m||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)165713428</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002424156</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 364d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 699d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="088" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">HMI B 465</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wulf, Friedrich</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">HMI B 465</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">128 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Berichte des Hahn-Meitner-Instituts / Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West></subfield><subfield code="v">465</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Stress</subfield><subfield code="0">(DE-588)4058047-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130209-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Grenzfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4021991-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ausheilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4192968-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Bestrahlung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4144952-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Wärmespannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188868-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Gitterbaufehler</subfield><subfield code="0">(DE-588)4125030-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">MOS</subfield><subfield code="0">(DE-588)4130209-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Stress</subfield><subfield code="0">(DE-588)4058047-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Ausheilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4192968-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Bestrahlung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4144952-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Wärmespannung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4188868-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Gitterbaufehler</subfield><subfield code="0">(DE-588)4125030-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="2"><subfield code="a">Ausheilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4192968-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Siliciumdioxid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077447-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="1"><subfield code="a">Ausheilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4192968-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="2"><subfield code="a">Grenzfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4021991-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West></subfield><subfield code="t">Berichte des Hahn-Meitner-Instituts</subfield><subfield code="v">465</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV024777415</subfield><subfield code="9">465</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001573442</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV002424156 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T15:45:01Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001573442 |
| oclc_num | 165713428 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-12 DE-91 DE-BY-TUM DE-11 |
| owner_facet | DE-12 DE-91 DE-BY-TUM DE-11 |
| physical | 128 S. |
| publishDate | 1989 |
| publishDateSearch | 1989 |
| publishDateSort | 1989 |
| record_format | marc |
| series2 | Berichte des Hahn-Meitner-Instituts / Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West> |
| spelling | Wulf, Friedrich Verfasser aut Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß HMI B 465 Berlin 1989 128 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berichte des Hahn-Meitner-Instituts / Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West> 465 Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988 Stress (DE-588)4058047-7 gnd rswk-swf MOS (DE-588)4130209-6 gnd rswk-swf Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd rswk-swf Ausheilung (DE-588)4192968-8 gnd rswk-swf Bestrahlung (DE-588)4144952-6 gnd rswk-swf MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd rswk-swf Wärmespannung (DE-588)4188868-6 gnd rswk-swf Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd rswk-swf Siliciumdioxid (DE-588)4077447-8 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Siliciumdioxid (DE-588)4077447-8 s MOS (DE-588)4130209-6 s Stress (DE-588)4058047-7 s Ausheilung (DE-588)4192968-8 s DE-604 MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 s Bestrahlung (DE-588)4144952-6 s Wärmespannung (DE-588)4188868-6 s Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 s 1\p DE-604 Grenzfläche (DE-588)4021991-4 s 2\p DE-604 Hahn-Meitner-Institut <Berlin, West> Berichte des Hahn-Meitner-Instituts 465 (DE-604)BV024777415 465 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Wulf, Friedrich Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß Stress (DE-588)4058047-7 gnd MOS (DE-588)4130209-6 gnd Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd Ausheilung (DE-588)4192968-8 gnd Bestrahlung (DE-588)4144952-6 gnd MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd Wärmespannung (DE-588)4188868-6 gnd Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd Siliciumdioxid (DE-588)4077447-8 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4058047-7 (DE-588)4130209-6 (DE-588)4021991-4 (DE-588)4192968-8 (DE-588)4144952-6 (DE-588)4135571-4 (DE-588)4188868-6 (DE-588)4125030-8 (DE-588)4077447-8 (DE-588)4113937-9 |
| title | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_alt | HMI B 465 |
| title_auth | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_exact_search | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_full | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_fullStr | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_full_unstemmed | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_short | Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Streß |
| title_sort | einheitliches modell zur beschreibung der generations und ausheilprozesse von oxidladungen qot und grenzflachenzustanden dit im siliziumdioxid durch streß |
| topic | Stress (DE-588)4058047-7 gnd MOS (DE-588)4130209-6 gnd Grenzfläche (DE-588)4021991-4 gnd Ausheilung (DE-588)4192968-8 gnd Bestrahlung (DE-588)4144952-6 gnd MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd Wärmespannung (DE-588)4188868-6 gnd Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd Siliciumdioxid (DE-588)4077447-8 gnd |
| topic_facet | Stress MOS Grenzfläche Ausheilung Bestrahlung MOS-Schaltung Wärmespannung Gitterbaufehler Siliciumdioxid Hochschulschrift |
| volume_link | (DE-604)BV024777415 |
| work_keys_str_mv | AT wulffriedrich einheitlichesmodellzurbeschreibungdergenerationsundausheilprozessevonoxidladungenqotundgrenzflachenzustandenditimsiliziumdioxiddurchstreß AT wulffriedrich hmib465 |