OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen: d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
1989
|
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 188 S. |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV002414516 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20070514 | ||
007 | t | ||
008 | 900109s1989 m||| 00||| gerod | ||
035 | |a (OCoLC)165706714 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV002414516 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-12 |a DE-19 |a DE-91 |a DE-703 |a DE-355 |a DE-29 |a DE-29T |a DE-11 |a DE-188 | ||
084 | |a ELT 238d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Flohr, Thomas |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen |b d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
264 | 1 | |c 1989 | |
300 | |a 188 S. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
502 | |a Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1989 | ||
650 | 0 | 7 | |a Elektronische Eigenschaft |0 (DE-588)4235053-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Halbleiterbauelement |0 (DE-588)4113826-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a pn-Übergang |0 (DE-588)4174949-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Ladungsträger |0 (DE-588)4166397-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Lebensdauer |0 (DE-588)4034837-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a OBIC-Verfahren |0 (DE-588)4295287-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Halbleiterbauelement |0 (DE-588)4113826-0 |D s |
689 | 0 | 1 | |a pn-Übergang |0 (DE-588)4174949-2 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Elektronische Eigenschaft |0 (DE-588)4235053-0 |D s |
689 | 0 | 3 | |a OBIC-Verfahren |0 (DE-588)4295287-6 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Ladungsträger |0 (DE-588)4166397-4 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Lebensdauer |0 (DE-588)4034837-4 |D s |
689 | 1 | 2 | |a pn-Übergang |0 (DE-588)4174949-2 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001566981 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804116837381701632 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Flohr, Thomas |
author_facet | Flohr, Thomas |
author_role | aut |
author_sort | Flohr, Thomas |
author_variant | t f tf |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV002414516 |
classification_tum | ELT 238d |
ctrlnum | (OCoLC)165706714 (DE-599)BVBBV002414516 |
discipline | Elektrotechnik |
format | Thesis Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01803nam a2200457 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV002414516</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20070514 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">900109s1989 m||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)165706714</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002414516</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-29</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 238d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Flohr, Thomas</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen</subfield><subfield code="b">d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">188 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1989</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4235053-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiterbauelement</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113826-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">pn-Übergang</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174949-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Ladungsträger</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166397-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Lebensdauer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4034837-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">OBIC-Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4295287-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiterbauelement</subfield><subfield code="0">(DE-588)4113826-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">pn-Übergang</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174949-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Elektronische Eigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4235053-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">OBIC-Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4295287-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Ladungsträger</subfield><subfield code="0">(DE-588)4166397-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Lebensdauer</subfield><subfield code="0">(DE-588)4034837-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">pn-Übergang</subfield><subfield code="0">(DE-588)4174949-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001566981</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV002414516 |
illustrated | Not Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T15:44:51Z |
institution | BVB |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001566981 |
oclc_num | 165706714 |
open_access_boolean | |
owner | DE-12 DE-19 DE-BY-UBM DE-91 DE-BY-TUM DE-703 DE-355 DE-BY-UBR DE-29 DE-29T DE-11 DE-188 |
owner_facet | DE-12 DE-19 DE-BY-UBM DE-91 DE-BY-TUM DE-703 DE-355 DE-BY-UBR DE-29 DE-29T DE-11 DE-188 |
physical | 188 S. |
publishDate | 1989 |
publishDateSearch | 1989 |
publishDateSort | 1989 |
record_format | marc |
spelling | Flohr, Thomas Verfasser aut OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen 1989 188 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1989 Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 gnd rswk-swf Halbleiterbauelement (DE-588)4113826-0 gnd rswk-swf pn-Übergang (DE-588)4174949-2 gnd rswk-swf Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd rswk-swf Lebensdauer (DE-588)4034837-4 gnd rswk-swf OBIC-Verfahren (DE-588)4295287-6 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Halbleiterbauelement (DE-588)4113826-0 s pn-Übergang (DE-588)4174949-2 s Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 s OBIC-Verfahren (DE-588)4295287-6 s DE-604 Ladungsträger (DE-588)4166397-4 s Lebensdauer (DE-588)4034837-4 s |
spellingShingle | Flohr, Thomas OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 gnd Halbleiterbauelement (DE-588)4113826-0 gnd pn-Übergang (DE-588)4174949-2 gnd Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd Lebensdauer (DE-588)4034837-4 gnd OBIC-Verfahren (DE-588)4295287-6 gnd |
subject_GND | (DE-588)4235053-0 (DE-588)4113826-0 (DE-588)4174949-2 (DE-588)4166397-4 (DE-588)4034837-4 (DE-588)4295287-6 (DE-588)4113937-9 |
title | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_auth | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_exact_search | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_full | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_fullStr | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_full_unstemmed | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
title_short | OBIC- und photoakustische Untersuchungen an hochsperrenden pn-Übergängen |
title_sort | obic und photoakustische untersuchungen an hochsperrenden pn ubergangen d ermittlung von diffusionslangen lebensdauern oberflachenkombinationsgeschwindigkeiten u elektr feldverteilungen |
title_sub | d. Ermittlung von Diffusionslängen, Lebensdauern, Oberflächenkombinationsgeschwindigkeiten u. elektr. Feldverteilungen |
topic | Elektronische Eigenschaft (DE-588)4235053-0 gnd Halbleiterbauelement (DE-588)4113826-0 gnd pn-Übergang (DE-588)4174949-2 gnd Ladungsträger (DE-588)4166397-4 gnd Lebensdauer (DE-588)4034837-4 gnd OBIC-Verfahren (DE-588)4295287-6 gnd |
topic_facet | Elektronische Eigenschaft Halbleiterbauelement pn-Übergang Ladungsträger Lebensdauer OBIC-Verfahren Hochschulschrift |
work_keys_str_mv | AT flohrthomas obicundphotoakustischeuntersuchungenanhochsperrendenpnubergangendermittlungvondiffusionslangenlebensdauernoberflachenkombinationsgeschwindigkeitenuelektrfeldverteilungen |