VLSI: testing and validation techniques VLSI, testing & validation techniques:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Washington, DC IEEE Computer Soc. Press 1985
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturverz. S. 579 - 596
Beschreibung:IX, 602 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0444879471

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