APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Tsui, F. F. (1987). LSI VLSI testability design. McGraw-Hill.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Tsui, Frank Fang. LSI VLSI Testability Design. New York u.a: McGraw-Hill, 1987.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Tsui, Frank Fang. LSI VLSI Testability Design. McGraw-Hill, 1987.